雷擊測(cè)試和浪涌測(cè)試什么區(qū)別

雷擊測(cè)試和浪涌測(cè)試是電子設(shè)備電磁兼容性測(cè)試中常見(jiàn)的兩種瞬態(tài)過(guò)電壓測(cè)試方法，雖然都屬于抗擾度測(cè)試范疇，但在測(cè)試目的、模擬場(chǎng)景和技術(shù)要求上存在顯著差異。理解這兩種測(cè)試的區(qū)別，有助于企業(yè)合理規(guī)劃產(chǎn)品測(cè)試方案，提高電子設(shè)備在復(fù)雜電磁環(huán)境中的可靠性。

測(cè)試目的與模擬場(chǎng)景的差異

雷擊測(cè)試專門模擬自然界雷電擊中線路或設(shè)備時(shí)產(chǎn)生的瞬時(shí)高壓現(xiàn)象，主要考察設(shè)備在遭受直接或間接雷擊時(shí)的耐受能力。這種測(cè)試針對(duì)的是極端惡劣的電磁環(huán)境，特別是戶外設(shè)備或電力系統(tǒng)可能遭遇的真實(shí)雷擊情況。測(cè)試等級(jí)通常較高，以驗(yàn)證設(shè)備在雷暴天氣下的安全性。

浪涌測(cè)試的范圍更為廣泛，不僅包含雷擊引起的浪涌，還包括電網(wǎng)開關(guān)操作、大功率設(shè)備啟停等產(chǎn)生的瞬態(tài)過(guò)電壓。浪涌測(cè)試更接近設(shè)備在正常運(yùn)行中可能遭受的電源干擾情況，如電力系統(tǒng)切換、短路故障等引起的瞬時(shí)電壓波動(dòng)。測(cè)試等級(jí)相對(duì)多樣，可根據(jù)設(shè)備使用環(huán)境靈活選擇。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與波形參數(shù)的對(duì)比

雷擊測(cè)試和浪涌測(cè)試都參考IEC/EN61000-4-5標(biāo)準(zhǔn)，但雷擊測(cè)試可能還會(huì)涉及GR1089等專門標(biāo)準(zhǔn)。IEC61000-4-5標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了組合波測(cè)試方法，即1.2/50μs電壓波與8/20μs電流波的組合。1.2/50μs表示電壓波從峰值的30%上升到90%所需時(shí)間為1.2微秒，下降到半峰值時(shí)間為50微秒；8/20μs表示電流波上升到峰值的90%時(shí)間為8微秒，下降到半峰值時(shí)間為20微秒。

雷擊測(cè)試更強(qiáng)調(diào)高能量沖擊，開路輸出電壓可達(dá)0.5～6kV，分5個(gè)等級(jí)，短路輸出電流為0.25～2kA，內(nèi)阻通常為2歐姆。浪涌測(cè)試的等級(jí)設(shè)置更加靈活，通常為±0.5kV～±4kV，可根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)要求調(diào)整。測(cè)試波形極性包括正負(fù)兩種，以模擬不同方向的瞬態(tài)過(guò)電壓。